应力双折射测量系统WPA系列可测量相位差高达3500nm，适合PC高分子材料，是Photonic lattice公司以其光子晶体制造技术开发的产品，的测量技术使其成为的光学测量产品。该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。WPA-200型更是市场上的多功能机器，适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。

PA-Micro 是日本 Photonic Lattice 公司推出的高精度显微双折射与应力测量系统，可搭载商用显微镜，实现 0–130 nm 相位差、光轴方位的全场高速定量检测，精度达 0.1 nm 级，Photonic lattice显微镜型应力双折射仪支持将测量结果换算为应力值，广泛用于光学玻璃、TGV孔的内应力与双折射分布分析，兼具高精度、面成像与易用性，是精密光学质检的核心设备。

红外应力双折射测量系统WPA-NIR硫系，红外树脂等材料对可见光不透过，这样的样品残余应力评估很难实现，为此Photonic Lattece 专门研制了WPA-NIR双折射测量仪，采用850nm或940nm波长，能高速的测量和分析近红外材料的双折射/残余应力分布。

玻璃应力双折射测量系统PA系列分布测量仪:理想的光学玻璃是各向同性的，但在退火过程中由于玻璃内外温度不同，或者退火炉内各处温度不等都会产生内应力。光学玻璃内应力的存在，破坏了各向同性，产生双折射现象，即内部应力的分布现象，现在利用测量双折射现象来改进光学玻璃的生产工艺，以及用来对光学玻璃的质量控制，成为世界光学玻璃厂商的手段。

PI/WPI偏振相机能够获得实时的偏振信息，作为一个正常的图像，并在高分辨率。 它们被应用在许多领域，包括利用偏振特征识别暗物体，激光光束的实时偏振监测等。 除了PI功能可以记录线偏振度（DOLP）和主轴方向角，WPI还可以全面记录Stokes参数和偏振度（DOP），这在部分偏振情况下是必要的。

玻璃内应力测量仪是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片，高精度同步协调的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。