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  • 红外应力双折射测量系统WPA-NIR 硫系,红外树脂等材料对可见光不透过,这样的样品残余应力评估很难实现,为此Photonic Lattece 专门研制了WPA-NIR双折射测量仪,采用850nm或940nm波长,能高速的测量和分析近红外材料的双折射/残余应力分布。
  • 应力双折射测量系统WPA-200-MT是Z业用于手机镜头等小尺寸镜头的应力双折射测量设备。镜片的双折射现象会造成镜片成像性能(MTF)下降,智能手机所使用的镜片需要高解析度,因此需要减少双折射的影响,了解镜片的双折射的大小,是镜片生产过程中不可缺少的,WPA-200-MT正符合这样的需求,并能高速完成各项测量。
  • 双折射测量仪PA-300-XL是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪,PA系列测量双折射测量范围达0-130nm,可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片,*的双折射算法设计制造,得到每片样品仅需几秒钟的测量能力,使其成为业内,特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。
  • 双折射测量仪PA-300-MT是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪,PA系列测量双折射测量范围达0-130nm,可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片,*的双折射算法设计制造,得到每片样品仅需几秒钟的测量能力,使其成为业内,特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。
  • 双折射测量仪PA-Micro操作简单,测量速度可以快到3秒。更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单,不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。
  • online双折射测量仪KAMAKIRI -X stageSTS的低配版,可升级STS 。 操作简单,可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布。 记录双折射的数值数据,以进行进一步详细分析。
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