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当前位置：首页产品中心双折射测量仪应力双折射测量仪PA系列PA-MICROPhotonic lattice显微镜型应力双折射仪

Photonic lattice显微镜型应力双折射仪
产品简介：

PA-Micro 是日本 Photonic Lattice 公司推出的高精度显微双折射与应力测量系统，可搭载商用显微镜，实现 0–130 nm 相位差、光轴方位的全场高速定量检测，精度达 0.1 nm 级，Photonic lattice显微镜型应力双折射仪支持将测量结果换算为应力值，广泛用于光学玻璃、TGV孔的内应力与双折射分布分析，兼具高精度、面成像与易用性，是精密光学质检的核心设备。

产品型号：PA-MICRO

更新时间：2026-04-01

厂商性质：代理商

访问量：16

服务热线

010-69798892

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Photonic Lattice应力双折射仪：高效测量应力双折射的创新工具
产品介绍
品牌Photonic Lattice测量精度0.1nm%
测量范围0-130nm价格区间面议
数显功能无温控功能无
产品种类台式产地类别进口
应用领域电子/电池,航空航天,汽车及零部件,电气测量最小分辨率0.001nm
输出值相位差/光程差、轴方向、应力值测量波长520nm

PA-MICRO

Photonic lattice显微镜型应力双折射仪

该型号适用于 0 到 130nm 的低双折射产品检测，可高速测量 500 万像素的高分辨率双折射/相位差分布，它是一种能够在显微镜视场中测量双折射的系统，随附的显微镜可选择奥林巴斯或尼康。

应用：

  • 通信光纤

  • 晶体

  • 纤维

  • 微小透明样品

技术参数：

项次

项目

具体参数

1

输出项目

相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】


2

测量波长

520nm


3

双折射测量范围

0-130nm


4

测量最小分辨率

0.001nm


5

测量重复精度

0.1nm

6

视野尺寸

142x170um到3.5x4.2mm
(×2，×5，×10，×20，×50)


7

选配镜头视野

无


8

选配功能

实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制


测量案例
Photonic lattice显微镜型应力双折射仪

北京欧屹科技提供全系列产品技术支持，可根据具体检测需求提供一对一定制化选型方案，助力精准匹配应用场景。








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