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红外应力双折射测量系统

  • 型   号:WPA-NIR
  • 价   格:

红外应力双折射测量系统WPA-NIR
硫系,红外树脂等材料对可见光不透过,这样的样品残余应力评估很难实现,为此Photonic Lattece 专门研制了WPA-NIR双折射测量仪,采用850nm或940nm波长,能高速的测量和分析近红外材料的双折射/残余应力分布。

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红外应力双折射测量系统WPA-NIR主要特点:

硫系,红外树脂等材料对可见光不透过,这样的样品残余应力评估很难实现,为此Photonic Lattece 专门研制了WPA-NIR双折射测量仪,采用850nm或940nm波长,能高速的测量和分析近红外材料的双折射/残余应力分布

  • 红外波长的双折射/相位差面分布测量 

  • 硫系、红外透明树脂等的光学畸变评估 
  • 小型、簡単操作、高速測量
  • WPA-NIR能高速的/分析波长为850nm940nm的双折射分布
  • 安装既有的操作简单和实用的软件WPA-View
  • 可以自由分析任意线上的相位差分布图形、任意区域内的平均值等的定量数据
  • 可搭配流水线对应的『外部控制选配』,也可应用于量产现场

红外应力双折射测量系统​WPA-NIR​主要功能

  • NIR波长仅需操作鼠标数秒内就能获取高密度的双折射/相位差信息
  • 测量数据的保存/读取简单快捷
  • 全部的测量结果都可以做保存/读取,易于跟过去的测量结果做比较等
  • 丰富的图形创建功能 
  • 可以自由制作线图形和直方图
  • 测量结果可以在一个图形上做比较,也可以用CSV格式输出  

 

红外应力双折射测量系统​主要参数

 

实际测量对比:

  

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