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  • 红外应力双折射测量系统WPA-NIR 硫系,红外树脂等材料对可见光不透过,这样的样品残余应力评估很难实现,为此Photonic Lattece 专门研制了WPA-NIR双折射测量仪,采用850nm或940nm波长,能高速的测量和分析近红外材料的双折射/残余应力分布。
  • 应力双折射测量系统WPA-200-MT是Z业用于手机镜头等小尺寸镜头的应力双折射测量设备。镜片的双折射现象会造成镜片成像性能(MTF)下降,智能手机所使用的镜片需要高解析度,因此需要减少双折射的影响,了解镜片的双折射的大小,是镜片生产过程中不可缺少的,WPA-200-MT正符合这样的需求,并能高速完成各项测量。
  • 应力双折射测量系统WPA-200-L系列是Photonic lattic公司以其L先世界的光子晶体制造技术开发的产品,独特的测量技术,高速而又精q的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。 该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量,全面掌握应力分布。可测数千nm高相位差分布的万用机器,Z适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果,二维图表可以更直观的读取数据。
  • 应力双折射测量系统WPA系列可测量相位差高达3500nm,适合PC高分子材料,是Photonic lattic公司以其光子晶体制造技术开发的产品,独特的测量技术使其成为*的光学测量产品。该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量,全面掌握应力分布。WPA-200型更是市场上的万能机器,适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果,二维图表可以更直观的读取数据。
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