应力双折射测量系统WPA系列可测量相位差高达3500nm，适合PC高分子材料，是Photonic lattice公司以其光子晶体制造技术开发的产品，的测量技术使其成为的光学测量产品。该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。WPA-200型更是市场上的多功能机器，适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。

产品型号：WPA-200

更新时间：2026-01-16

厂商性质：代理商

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产品介绍

WPA系列可测量相位差高达3500nm，适合PC高分子材料，是Photonic lattice公司以其的光子晶体制造技术开发的产品，高精度的测量技术，使其成为专业级的光学测量产品。

应力双折射测量系统在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。WPA-200型更是市场上的多功能机器，适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。

应力双折射测量系统WPA-200主要特点:

主要应用：

· 光学零件（镜片、薄膜、导光板）

· 透明成型品（车载透明零件、食用品容器）

· 透明树脂材料（PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC）

· 透明基板（玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石）

· 有机材料（球晶、FishEve）

技术参数：

项次	项目	具体参数
1	输出项目	相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】

2	测量波长	523nm、543nm、575nm

3	双折射测量范围	0-3500nm

4	测量小分辨率	0.001nm

5	测量重复精度	<0.1nm（西格玛）

6	视野尺寸	218x290mm-360×480mm（标准）

7	选配镜头视野	无选配

8	选配功能	实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制，CD模式