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应力双折射测量系统

  • 型   号:WPA-200
  • 价   格:

应力双折射测量系统WPA系列可测量相位差高达3500nm,适合PC高分子材料,是Photonic lattic公司以其光子晶体制造技术开发的产品,独特的测量技术使其成为*的光学测量产品。该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量,全面掌握应力分布。WPA-200型更是市场上的万能机器,适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果,二维图表可以更直观的读取数据。

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WPA-200

应力双折射测量系统 WPA-200

        WPA系列可测量相位差高达3500nm,适合PC高分子材料,是Photonic lattic公司以其的光子晶体制造技术开发的产品,独特的测量技术,使其成为*的光学测量产品。 该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量,全面掌握应力分布。WPA-200型更是市场上的万能机器,适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果,二维图表可以更直观的读取数据。

  

应力双折射测量系统 WPA-200主要特点:

  • 操作简单,测量速度可以快到3秒。
  • 采用CCD Camera,视野范围内可一次测量,测量范围广。
  • 测量数据是二维分布图像,可以更直观的读取数据。
  • 具有多种分析功能和测量结果的比较。
  • 维护简单,不含旋转光学滤片的机构。
  • 市场占有率很高的残余应力测量设备


 主要应用: 

· 光学零件(镜片、薄膜、导光板)

· 透明成型品(车载透明零件、食用品容器)

· 透明树脂材料(PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC

· 透明基板(玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石)

· 有机材料(球晶、FishEve

 
技术参数:

项次

项目

具体参数

1

输出项目

相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa

 

2

测量波长

520nm543nm575nm

 

3

双折射测量范围

0-3500nm

 

4

测量小分辨率

0.001nm

 

5

测量重复精度

<1nm(西格玛)

 

6

视野尺寸

218x290mm-360×480mm(标准)

 

7

选配镜头视野

无选配

 

8

选配功能

实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制,CD模式

 

 

 测量案例:

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