PHL 应力双折射检测仪PA系列由日本Photonic lattice公司开发，具备高精度和快速测量的特点。 该设备采用光子晶体偏光阵列片和独特的双折射算法，能在几秒内完成从毫米级到接近500毫米样品的双折射测量，测量范围为0-130nm。 其特点包括操作简便、视野广阔、无需旋转光学滤片，并配备高像素偏振相机。 适用于光学镜片、智能手机玻璃基板及蓝宝石等材料的测量，支持多种分析功能和外部控制

应力双折射测量系统WPA-200-MT是Z业用于手机镜头等小尺寸镜头的应力双折射测量设备。镜片的双折射现象会造成镜片成像性能（MTF）下降，智能手机所使用的镜片需要高解析度，因此需要减少双折射的影响，了解镜片的双折射的大小，是镜片生产过程中关键质控的，WPA-200-MT正符合这样的需求，并能高速完成各项测量。

应力双折射检测系统PA300和PA300-L是Photonic lattic公司以其Lxian世界的光子晶体制造技术开发的产品，高精度的测量技术，高速而又的测量3D玻璃，晶体等产品的双折射效应，得出的相位差数值，从而量化出产品应力数值，在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。广泛应用于手机3D玻璃的研发，生产，质量测试中。

WPA系列是Photoniclattice公司采用自研的光子晶体技术，开发的一款适用性高的应力双折射检测设备，可测量相位差（光程差）高达3500nm，Photonic lattice应力双折射解决方案WPA-200L适合注塑成型的透光器件的应力双折射检测，数秒给出被测产品的应力双折射大小和分布信息。

WPA系列是Photoniclattic公司采用自研的光子晶体技术，开发的一款适用性高的应力双折射检测设备，可测量相位差（光程差）高达3500nm，Photonic lattice双折射分析仪WPA-200L适合注塑成型的透光器件的应力双折射检测，数秒给出被测产品的应力双折射大小和分布信息。

光学应力分析仪WPA-NIR硫系，红外树脂等材料对可见光不透过，这样的样品残余应力评估很难实现，为此Photonic Lattece 专门研制了WPA-NIR双折射测量仪，采用850nm或940nm波长，能高速的测量和分析近红外材料的双折射/残余应力分布。