双折射应力测试设备WPA系列可测量相位差高达3500nm，适合PC高分子材料，是Photonic lattice公司以其光子晶体制造技术开发的产品，的测量技术使其成为的光学测量产品。该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。WPA-200型更是市场上的多功能机器，适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。

WPA系列是Photoniclattic公司采用自研的光子晶体技术，开发的一款适用性高的应力双折射检测设备，可测量相位差（光程差）高达3500nm，Photonic lattice应力双折射仪WPA-200L适合注塑成型的透光器件的应力双折射检测，数秒给出被测产品的应力双折射大小和分布信息。

WPA系列是Photoniclattice公司采用自研的光子晶体技术，开发的一款适用性高的应力双折射检测设备，可测量相位差（光程差）高达3500nm，PHL应力双折射测量仪WPA-200L适合注塑成型的透光器件的应力双折射检测，数秒给出被测产品的应力双折射大小和分布信息。

内应力测量仪PA-300-XL是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片，高精度同步协调的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。

双折射测量仪PA-300-MT是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片，*的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。

双折射测量仪PA-Micro操作简单，测量速度可以快到3秒。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。