双折射应力测试设备WPA系列可测量相位差高达3500nm，适合PC高分子材料，是Photonic lattice公司以其光子晶体制造技术开发的产品，的测量技术使其成为的光学测量产品。该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。WPA-200型更是市场上的多功能机器，适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。

产品型号：

更新时间：2026-01-13

厂商性质：代理商

访问量：9

服务热线

010-69798892

立即咨询

产品分类

PRODUCT CLASSIFICATION

双折射测量仪

应力双折射测量仪PA系列应力双折射测量仪WPA系列显微型双折射测量仪晶圆应力双折射测量仪在线型应力双折射测量仪偏振相机膜厚测量仪

查看全部产品

NDS划片机创新的机体结构设计

双折射测量仪的特点、使用操作及注意事项介绍

日本划片机操作简便自动化设计

偏振相机的使用技巧和注意事项

产品介绍

WPA系列可测量相位差高达3500nm，适合PC高分子材料，是Photonic lattice公司以其的光子晶体制造技术开发的产品，*的测量技术，使其成为*的光学测量产品。 双折射应力测试设备在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。WPA-200型更是市场上的多功能机器，适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。

双折射应力测试设备WPA-200主要特点:

操作简单，测量速度可以快到3秒。
采用ＣＣＤ Camera，视野范围内可一次测量，测量范围广。
测量数据是二维分布图像，可以更直观的读取数据。
具有多种分析功能和测量结果的比较。
维护简单，不含旋转光学滤片的机构。
*很高的残余应力测量设备。

主要应用：

· 光学零件（镜片、薄膜、导光板）

· 透明成型品（车载透明零件、食用品容器）

· 透明树脂材料（PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC）

· 透明基板（玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石）

· 有机材料（球晶、FishEve）

技术参数：

项次	项目	具体参数
1	输出项目	相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】

2	测量波长	520nm、543nm、575nm

3	双折射测量范围	0-3500nm

4	测量小分辨率	0.001nm

5	测量重复精度	<0.1nm（西格玛）

6	视野尺寸	218x290mm-360×480mm（标准）

7	选配镜头视野	无选配

8	选配功能	实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制，CD模式