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双折射测量仪PA-300-MT

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双折射测量仪PA-300-MT是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪,PA系列测量双折射测量范围达0-130nm,可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片,*的双折射算法设计制造,得到每片样品仅需几秒钟的测量能力,使其成为业内,特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。

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双折射测量仪PA-300-MT主要特点:

  • 操作简单,测量速度可以快到3秒;
  • 视野范围内可一次测量,测量范围广;
  • 更直观的全面读取数据,无遗漏数据点;
  • 具有多种分析功能和测量结果的比较;
  • 维护简单,不含旋转光学滤片的机构;
  • 高达2056x2464像素的偏振相机。


双折射测量仪PA-300-MT应用领域

  • 小尺寸样品
  • 光学镜头


主要技术参数: 

  项次           项目            具体参数
1输出项目          相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】
 
2测量波长520nm
 
3双折射测量范围0-130nm
 
4测量小分辨率0.001nm
 
5测量重复精度<1nm(西格玛)
 
6视野尺寸17.5x21mm到33x40mm(标准)
 
7选配镜头视野6.3x7.5mm
 
8选配功能                实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制


测量案例:
复印机镜头测量蓝宝石测量单反相机镜头测量

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