WPA系列是Photoniclattic公司采用自研的光子晶体技术，开发的一款适用性高的应力双折射检测设备，可测量相位差（光程差）高达3500nm，PHL应力双折射测量仪WPA-200L适合注塑成型的透光器件的应力双折射检测，数秒给出被测产品的应力双折射大小和分布信息。

PHL应力双折射测量仪主要简介：

WPA系列是Photonic lattic公司采用自研的光子晶体技术，开发的一款适用性高的应力双折射检测设备，可测量相位差（光程差）高达3500nm，适合注塑成型的透光器件的应力双折射检测，高速而的测量能力受到各大光学厂和研究机构的青睐。数秒给出被测产品的应力双折射大小和分布信息。

WPA 系列是Photonic Lattice, Inc.针对高双折射的透明材料开发的光学测量设备，通过核心的偏光图像传感器，

可以快速准确的测量透明材料的应力双折射，针对不同产品尺寸，均有可匹配的型号可供选择。

主要特点

可快速自动测量应力双折射的大小、方向和分布

面测量、可一次测量视野范围内样品的全部数据

具备点、线、面、3D的分析功能

三波长可量测0-3500nm，可拓展至10000nm

可输出光程差（nm）、偏振角度（°）、应力（Mpa）、应力双折射（nm/mm）

PHL应力双折射测量仪

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