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双折射测量仪
应力双折射测量仪PA系列
PA-300PHL 应力双折射检测仪PA系列
产品型号:PA-300
更新时间:2026-01-12
厂商性质:代理商
访问量:73
服务热线010-69798892
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PA系列是Photonic lattice公司采用自研的光子晶体技术,针对玻璃、SIC晶圆、蓝宝石等低应力双折射的测量系统,数秒给出被测产品的应力双折射大小和分布信息
产品简介:
PHL 应力双折射检测仪PA系列针对高双折射的透明材料开发的光学测量设备,通过核心的偏光图像传感器,可以快速准确的测量透明材料的应力双折射,针对不同产品尺寸,均有可匹配的型号可供选择。
主要特点:
可快速自动测量应力双折射的大小、方向和分布
面测量、可一次测量视野范围内样品的全部数据
具备点、线、面、3D的分析功能
500万像素,高分辨能力
可输出光程差(nm)、偏振角度(°)、应力(Mpa)、应力双折射(nm/mm)
技术参数:

测量案例


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