新款适用于红外产品的双折射应力测量系统   

        针对市场的需要，我们开发了新款红外波段的应力双折射测量系统WPA-NIR，对分析红外光学产品提供了帮助，新款的WPA-NIR在以往的设计基础上，更加的小型化，操作简单、测量速度快，可搭配流水线使用。

        应力双折射测量系统WPA-NIR可以选用红外两个波长对红外产品进行进行检测，目前国内镜片厂商已采购，操作简单，即学即用。

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