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更新时间:2026-05-20
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| 品牌 | 其他品牌 | 线宽 | 250nm |
|---|---|---|---|
| 加工速率 | 18mm2/h | 激光波长 | 405nm(紫外) |
系统采用405nm 紫外激光为光源,结合声光调制器与高精度振镜协同控制,经高数值孔径物镜聚焦至光刻胶表面;通过专用软件导入设计图形,直接转化为激光扫描轨迹,逐点完成高精度曝光,全程无需掩模,大幅缩短研发周期、降低打样成本。
最小线宽:0.25μm(250nm),满足微纳结构分辨率需求。
定位精度:XY 双向重复定位精度≤120nm,最小移动步距≤50nm。
拼接精度:相邻曝光区域拼接误差≤150nm,大面积加工无明显接缝。
最大加工范围可达48×48mm²,支持全域连续图形制备;通过精密拼接技术,平衡大幅面加工与亚微米级精度,适配微型显示芯片等大面积光电器件研发。
机身一体化集成,体积小巧,可直接放入手套箱内,在氮气、氩气等恒定惰性氛围中运行,有效隔绝水汽、氧气干扰,适配钙钛矿、二维材料等氛围敏感材料的加工与测试场景。
专用操作软件支持图形自由设计、修改与导入,兼容 GDS 等常用格式;支持多种曝光模式,兼顾科研小批量打样与中试小批量生产,无需额外掩模制作,显著缩短研发周期。
| 参数项 | 数值 |
|---|---|
| 激光波长 | 405nm(紫外) |
| 最小线宽 | 0.25μm |
| XY 重复定位精度 | ≤120nm |
| 最小移动步距 | ≤50nm |
| 最大加工面积 | 48×48mm² |
| 拼接误差 | ≤150nm |
| 加工速率 | 18mm²/h |
1. 光电器件研发:微型显示芯片、LED、光电探测器、微透镜阵列等微纳结构图形化制备。
2. 敏感材料研究:钙钛矿、二维材料、量子点等氛围敏感材料的器件原型制备与工艺验证。
3. MEMS 与传感器:微机电系统、微电极、微流控芯片的高精度图形加工。
4. 先进封装:半导体先进封装重分布层(RDL)、凸块(Bumping)等环节图案化。