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online双折射测量仪KAMAKIRI -X stage

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online双折射测量仪KAMAKIRI -X stageSTS的低配版,可升级STS 。 操作简单,可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布。 记录双折射的数值数据,以进行进一步详细分析。

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   Photron集团公司是日本大型相机,视频,软件控制供应商,其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛,欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备,其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合,研制在线双折射/残余应力测量仪,世界上仅有KAMAKIRI可以提供,广泛应用于光学薄膜,PVA,PC,COP和TAC等领域

 

online双折射测量仪KAMAKIRI -X stage应用领域

  • 相位差薄膜(TAC/PC/PMMA/COC
  • 保护薄膜(PET/PEN/PS/PI
  • 树脂成型
  • 玻璃 


online双折射测量仪KAMAKIRI -X stage技术参数:

项目

具体参数

1

输出项目

相位差【nm】,轴方向【°

 

2

测量波长

543nm(支持客制化)

 

3

双折射测量范围

0-260nm(支持客制化)

 

4

主轴方位范围

0-180°

 

5

测量重复精度

<1nm(西格玛)

 

6

测量尺寸

A4(标准)

 

7

定制选项

可定制大载台

 





















 

     

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