online双折射测量仪KAMAKIRI -X stageSTS的低配版，可升级STS 。操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布。记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。

产品型号：

更新时间：2025-12-11

厂商性质：代理商

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PRODUCT CLASSIFICATION

双折射测量仪

应力双折射测量仪PA系列应力双折射测量仪WPA系列显微型双折射测量仪晶圆应力双折射测量仪在线型应力双折射测量仪偏振相机膜厚测量仪

产品介绍

Photron集团公司是日本大型相机，视频，软件控制供应商，其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛，欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片很好的结合研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域

online双折射测量仪KAMAKIRI -X stage应用领域：

相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）
保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）
树脂成型
玻璃

online双折射测量仪KAMAKIRI -X stage技术参数：

项次	项目	具体参数
1	输出项目	相位差【nm】，轴方向【°】

2	测量波长	543nm（支持客制化）

3	双折射测量范围	0-260nm（支持客制化）

4	主轴方位范围	0-180°

5	测量重复精度	<1nm（西格玛）

6	测量尺寸	A4(标准)

7	定制选项	可定制大载台