返回首页 在线留言 联系我们
首页 下载中心 > 相位差、双折射、内应力测量设备

下载中心

相位差、双折射、内应力测量设备

点击次数:1580 发布时间:2018/6/4
提 供 商: 北京欧屹科技有限公司 资料大小:
图片类型: 下载次数: 443
资料类型: PDF 浏览次数: 1580
相关产品:
详细介绍: 文件下载    

文件下载    

           北京欧屹科技代理的日本PHL公司的双折射测量设备,是由日本东北大学电器研究室与井上研究室共同开发的光子晶体技术,进而转化出来的对透明键产品内部应力测量的一款设备,利用光子晶体与CCD相机的结合,产生的偏光感应器,可以在3秒的时间得到被测样品整个面的内部应力的分布的情况。

 
网站首页 公司简介 产品中心 招聘中心 技术支持 企业动态 联系我们 管理登陆
GoogleSitemap ICP备案号:京ICP备15048507号-2 技术支持:化工仪器网
联系方式

联系人:鲁工  

售前咨询