亚微米微粒-目视也能轻松验证——粒子可视化插入系统

传统亚微米级（1μm以下）微粒检测依赖有安全风险的4级激光及需专业调试的专用相机，操作繁琐且隐患突出。本系统实现世界突破：无需激光照射，仅凭单光源即可实现亚微米微粒目视验证，工程师可在生产现场轻松操作，将打破传统检测模式的局限。

作为0.1μm级别微粒子排查的专用设备，该系统在安全性、操作便捷性与检测精度上实现三重突破，其核心技术参数与工作原理，充分彰显产品的可靠性与现场实用性。

二、核心技术参数与原理

该系统以“便捷化、高安全、高精度"为核心定位，精准适配各行业现场检测需求，核心技术参数如下：

• 光源类型：采用特定波长绿色光源（非激光），安全等级达标，可直接目视观察，从根源上消除激光辐射带来的安全隐患，适配各类洁净生产环境。

• 检测精度：可稳定捕捉0.1μm及以上亚微米级微粒，灵敏度远超传统同类设备，能精准识别各行业工艺所需排查的不同粒径异物。

• 设备形态：采用业界最小级别超小型光源头与高感度相机组合，本体仅50g，配备磁铁底座及夹具，可直接伸入各类生产设备内部狭窄空间，无需拆卸被测设备，降低对生产流程的干扰。

除核心参数外，系统的核心技术优势进一步贴合现场检测需求，有效解决传统检测痛点：

1. 无需激光辅助，依托绿色光源即可实现亚微米微粒目视观察，大幅降低操作门槛，摆脱对专业相机系统及专业调试的依赖；

2. 超小型设计搭配USB总线供电，无需额外配置电源，可灵活深入设备内部，高效应对狭窄空间检测需求；

3. 搭载最新图像处理技术，可清晰捕捉传统设备难以拍摄的微小粒子图像，配合焦点显示功能，精准定位视野焦点区域，提升检测准确性；

4. 具备多功能测量评价能力，可实现粒子轨迹运动观察、亮度浓度分析、粒径分类计数等功能，全面满足多样化检测需求；

5. 兼容Windows系统PC，无需专用终端，出口合规性强，支持企业内部服务器数据共享，助力多岗位协同管控。

依托上述核心优势，该系统广泛适配多行业生产现场，成为各行业微观检测的核心助手，具体应用场景如下：

三、核心应用场景

该系统操作便捷、安全精准，全面覆盖各行业生产、检修、质检全流程，针对不同行业工艺的异物粒径要求，实现精准排查，具体场景如下：

    1、半导体行业

在半导体制造光刻工艺中，若光掩模或硅晶片上存在大于0.1μm的异物，将无法准确形成电路图形，直接影响芯片良率并制约先进制程量产。该系统可稳定捕捉0.1μm及以上亚微米级微粒，可直接插入光刻设备内部检测，无需拆卸，工程师可通过目视轻松排查，搭配计数分类功能追溯污染源头，非激光设计适配半导体行业严苛的洁净生产要求。

    2、光纤制造行业

在光纤拉伸工艺中，若混入5μm及以上的异物，可能会导致光传输丢失或断开，严重影响光纤传输性能与产品使用寿命。该系统可精准捕捉5μm及以上异物，体积小巧且环境适应性优异，可直接插入光纤拉伸设备内部检测，工程师通过目视即可完成排查，精准评估设备内部洁净度，保障光纤生产质量。

    3、汽车制造行业

在汽车喷漆工艺中，10μm及以上异物粘附在涂漆表面时，会导致涂膜产生凹凸不平的部位和气泡，严重影响汽车外观品质。该系统可精准捕捉10μm及以上异物，凭借超小型设计可灵活伸入喷漆设备及待喷漆工件附近，无需拆卸设备，工程师通过目视即可快速排查，助力优化喷漆工艺，显著提升汽车外观合格率。

该系统凭借0.1μm及以上检测精度、非激光目视设计、超小型可插入形态等核心优势，精准匹配半导体、HDD制造、医药、LCD、光纤、汽车制造六大核心场景，无需拆卸设备、操作便捷，可有效解决各行业工艺中的异物污染痛点，为六大行业提供高效、精准、安全的微观检测解决方案，助力各行业优化生产工艺、提升产品良率与品质。

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