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如何使用双折射仪测量样品的双折射值和方向?
更新时间:2023-05-22   点击次数:677次
   双折射仪是一种测量材料双折射性质及其参数的仪器,可用于测量光学单晶、晶体、液晶等材料的双折射值和方向。在使用双折射仪测量样品的双折射值和方向时,需要进行以下步骤:
 
  1.样品的制备
 
  选取所需的样品,对其进行打磨或切割处理。样品的制备需要注意,在样品表面应该没有太深或者太浅的裂纹,气泡以及其他污染物,以免影响双折射的测量。
 

 

 
  2.样品的设置
 
  将经过打磨和切割处理的样品放置于样品台上,并根据需要设置样品的方向和位置。
 
  3.调节参数
 
  需要根据具体的样品,调节其工作参数,以便进行准确测量。需要调整像差补偿,根据样品大小调节数值光栅的位置,并累加光团的图像,以增强样品的信号-噪声比。
 
  4.观察样品的双折射现象
 
  在双折射测量过程中,需要观察样品的双折射图案和色泽变化,以确定样品的双折射现象。首先观察样品的测试位置,观察到细小的双折射图片后,再调整像差补偿、网规的水平,让图样清晰。
 
  5.测量双折射值与方向
 
  确定样品的双折射方向后,可以开始对其进行双折射值的测量。在双折射仪中,需要通过改变垂直于样品光线的旋转角度来进行测量。通常,通过旋转样品,可以记录其在不同角度下的双折射值,并计算双折射值与角度的关系曲线。
 
  通过以上步骤,即可在双折射仪中测量样品的双折射值与方向。但是,在实际测量过程中,还需要注意以下几点:
 
  首先,需要进行足够的预照明时间,以保证测量的准确性和稳定性。
 
  其次,在测量过程中要注意垂直样品表面的光线照射,并且要记录下每一个测量点的光照位置,以便准确控制其位置和角度。
 
  最重要的是,测量的结果要进行多次测量并取平均值,以减小实验误差。

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